分子束外延掃描探針顯微系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年12月7日啟用。
基本介紹
- 中文名：分子束外延掃描探針顯微系統
- 產地：中國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2018年12月7日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
快速進樣室：材料為不鏽鋼304，腔體外徑為114mm，內壁電化學拋光處理 真空度：優於1.3�10-5Pa (焙燒前) 安放台：固定在磁力傳送桿上的安放台能夠安放4個樣品架和4個針尖架； 傳送桿：一根磁力傳送桿用於在快速進樣室和製備室之間傳送針尖和樣品； 快進門：用於取放針尖和樣品；可以更換為標準的刀口法蘭密封方式以實現更好的真空度； 漏氣閥：尺寸為ICF70，ANELVA產品；材料為不鏽鋼304，腔體外徑為253mm，內壁電化學拋光處理 真空度: 優於3�10-8Pa 樣品操縱台: 操縱台上能夠安放4個樣品架和4個針尖架；在樣品加熱電子束轟擊(EB)加熱； 直流加熱(DC)溫度可達至1300�C； 電子束轟擊加熱(EB)溫度可達至1500�C；台上能夠進行直流(DC)加熱和電子束轟擊(EB)加熱； 電子束轟擊加熱(EB)溫度可達至1500�C； 直流加熱(DC)溫度可達至1300�C， 台上能夠進行直流(DC)加熱和電子束轟擊(EB)加熱； 直流加熱(DC)溫度可達至1300�C； 電子束轟擊加熱(EB)溫度可達至1500�C； 傳送桿： 使用磁力傳送桿。
主要功能
適用於單分子的譜學研究（IETS）以及在低溫下表面不同現象的觀察。在進行STM實驗過程當中，可以施加高磁場，同時此儀器還可以對磁性材料進行自旋極化的STM實驗。
