分子束外延及低溫掃描隧道顯微系統

分子束外延及低溫掃描隧道顯微系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2008年12月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：分子束外延及低溫掃描隧道顯微系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2008年12月18日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 掃描隧道顯微鏡

技術指標

三個電子束蒸發源（可擴充至8個），低溫掃描隧道顯微系統最低溫度5K、磁場0.15T，QPlus的原子力顯微鏡，低溫磁光系統最低溫度20K、磁場1.4T，俄歇電子能譜儀，低能電子衍射儀，背景真空2x10-11 mBar。

主要功能

能夠精確製備0.1~10個單層原子層厚的金屬超薄膜並且能夠對其表面形貌進行表征。