掃描探針原子力顯微鏡

掃描探針原子力顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器，於2000年7月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描探針原子力顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2000年7月11日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 原子力顯微鏡

技術指標

可用於各種材料的表面形貌表征、單點IV測量、簡單的高分辨原子成像等。

主要功能

測量樣品表面形貌。