開爾文探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年9月2日啟用。
開爾文探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年9月2日啟用。技術指標可持續穩定得到原子級圖像。用原子力顯微鏡模式對雲母樣品進行5-10nm範圍的掃描成像，測量圖像中相鄰雲母原子的間距值；要求測量值在：0....
掃描開爾文探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年3月7日啟用。技術指標 1 縱向解析度：可持續穩定得到原子級解析度。 2 橫向解析度：可持續穩定得到原子級解析度。 3 噪聲水平：＜0.3 ？，可持續穩定地達到原子級解析度...
INNOVA開爾文探針顯微鏡 INNOVA開爾文探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年8月3日啟用。技術指標 公函解析度 （1mV）。主要功能 測試樣品表面光電壓能譜和公函式測試。
開爾文探針(Kelvin Probe)—RTK是一種基於振動電容的非接觸無損氣相環境金屬表面電位的測量技術，用於測量材料的功函式(Work Function)或表面勢(Surface Potential)。它可以用於檢測氣相環境中因溫度、濕度、表面的化學、電學、力學、晶體、...
力曲線模式；力映射模式（力曲線陣列模式）；力調製模式；調頻模式； 開爾文探針力顯微鏡（KPFM）；側向力模式（LFM）；損耗角正切模式；改進調頻制模式（MFM）；MicroAngelo™（納米光刻／納米操控）；相位成像模式；壓電回響力顯微鏡模式(...
3．具有原子力顯微鏡的常用工作模式，如：接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、摩擦力顯微鏡、相位成像模式、力調製模式、磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡、粘附力成像、掃描電容顯微鏡、掃描開爾文探針顯微鏡、擴展電阻成像、壓電回響力顯微鏡等。。
技術指標及配置: 1.接觸式AFM；2.摩擦力/橫向力顯微鏡；3.力調製；4.動態及靜態力曲線；5.擴展電阻成像（導電原子力）；6.輕敲式/非接觸式AFM；7.相位成像；8.磁力顯微鏡；9.靜電力顯微鏡；10.開爾文探針力/表面電勢顯微鏡；11....
掃描開爾文探針是一種用於化學領域的分析儀器，於2010年12月24日啟用。技術指標 1、技術：無損表面分析技術;2、功函式解析度 ：5-10 meV(50微米針尖)；3、針尖到樣品表面距離可以達到400納米以內;4、功函式或表面勢、樣品形貌3維地圖...
8．2 基於掃描開爾文探針顯微鏡的手印成像技術 8．2．1 開爾文探針技術發展簡史 8．2．2 掃描開爾文探針顯微鏡儀器裝置與工作原理 8．2．3 掃描開爾文探針顯微鏡在手印成像中的套用 8．3 小結 參考文獻 附錄 研究小組近期代表科研成果...
本項目創造性地提出以光電子能譜、掃描開爾文探針顯微鏡為主要研究手段，研究陰極界面層與光活性層、電極的界面能級排列及相互作用，以及陰極界面層對活性層微觀結構及界面電勢分布的影響，闡明溶液加工材料作為陰極界面層提高器件性能的內在...
本課題通過對蛋白質在生物材料表面吸附作用進行研究，利用螢光標記法、原子力顯微鏡和開爾文探針顯微鏡，獲得了白蛋白對材料腐蝕速率的影響機理。結合電化學測試和摩擦磨損測試方法，揭示了人工關節鈷基合金在模擬生物體環境中，金屬生物膜的...
