掃描開爾文探針顯微鏡

掃描開爾文探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年3月7日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描開爾文探針顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2012年3月7日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

1 縱向解析度：可持續穩定得到原子級解析度。 2 橫向解析度：可持續穩定得到原子級解析度。 3 噪聲水平：＜0.3 ？，可持續穩定地達到原子級解析度。對外界環境具有較高的抗干擾性（有防震系統）。 4 開爾文探針解析度：形貌解析度10nm，電壓解析度1毫伏。 5 掃描速度0.1－6MHz。 6 最大掃描範圍：大於或等於 125 μm*125 μm。

主要功能

?微電子 ?先進材料 ?光通訊 ?生命科學/生物技術 ?製藥 ?納米操縱/刻蝕。