可見紅外掃描顯微鏡

可見紅外掃描顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年11月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：可見紅外掃描顯微鏡
• 產地：白俄羅斯
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2017年11月28日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

1. 雷射光源：波長532nm的固體雷射器，功率≥3mW，波長1550nm，功率≥100mV；； 2. 光電探測器：可見光PMT波長回響範圍優於185－850nm，包含驅動電源及後續信號處理電路；紅外PMT波長回響範圍900－1660nm，峰值回響波長1550nm，包含驅動電源及後續信號處理電路； 3. 探針掃描探測範圍XY≥90µm×90µm；Z≥9µm；樣品掃描範圍XY≥50µm×50µm； 4. 掃描近場光學顯微鏡的解析度≤100nm； 5. 帶有XYZ三維感測器的壓電陶瓷掃描器，同時具有開環控制和閉環控制的功能； 6. 控制軟體與常規光探測器和光譜探測儀器兼容，並具有聯用的升級功能，能夠實現對選定光波段進行近場掃描成像和形貌成像分析； 7. 視頻顯微鏡：正置顯微鏡帶CCD成像； 8. 倒置顯微鏡：用於透射信號收集和收集模式雷射激發； 9. 可放置樣品最大尺寸直徑不小於100mm。

主要功能

1.能夠實現掃描近場光學顯微鏡、原子力顯微鏡的探測、成像，可用於對樣品的微區表面近場光學信息、納米尺度形貌等的檢測以及微納表面結構加工技術研究。 2．具備掃描近場光學顯微鏡的多種工作模式，如：SNOM收集模式和剪下力模式等； 3．具有原子力顯微鏡的常用工作模式，如：接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、摩擦力顯微鏡、相位成像模式、力調製模式、磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡、粘附力成像、掃描電容顯微鏡、掃描開爾文探針顯微鏡、擴展電阻成像、壓電回響力顯微鏡等。。