基本介紹
- 名稱:掃描電子顯微鏡檢查
- 所屬分類:顯微鏡檢查
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態,即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品...
掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時,被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射...
場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高解析度,能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像...
環境掃描電子顯微鏡,是指掃描電子顯微鏡的一個重要分支,環境掃描電子顯微鏡除了像普通掃描電鏡的樣品室和鏡筒內設為高真空,檢驗導電導熱或經導電處理的乾燥固體樣品以...
台式掃描電子顯微鏡(Desktop Scanning Electron Microscope)是一種體積小巧,可安放在實驗檯面上操作的電子顯微鏡。其原理和傳統掃描電子顯微鏡相同。部件包括:電子發射、...
超高解析度掃描電子顯微鏡是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器。...... 超高解析度掃描電子顯微鏡是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器。...
場發射槍掃描電子顯微鏡適用於金屬、陶瓷、半導體、礦物、生物、高分子、複合材料和納米級一維、二維和三維材料的表面形貌進行觀察(二次電子像、背散射電子像); 可...
掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡。STEM用電子束在樣品的表面掃描,通過電子穿透樣品成像...
首先將光聚焦成微小光點,然後掃描樣品,每一掃描點作為一像元,一組掃描點的信號經A/D轉換和圖像化處理後得到一組像元,即顯微像。掃描式顯微鏡的解析度取決於微小...
簡介 透射·掃描電子顯微鏡、ransmissian-acanaing e:ectr}n ms-。r}ascc3pe; }1'SEM電子顯微鏡的種。由電子槍產生的高速電子束,投射到待測試樣_巨,然後逐點...
掃描電子顯微鏡樣品製備技術(preparationof specimens for scanning electron microscopy):掃描電子顯微鏡以觀察樣品的表面形態為主,因此掃描電子顯微鏡樣品的製備,必須滿足...
CD-SEM(特徵尺寸測量用掃描電子顯微鏡)是一種根據圖像的灰度(grey-scale)來確定圖形的邊界,進而計算出線寬的掃描電子顯微鏡。...
電子顯微鏡技術是20世紀重大發明之一。1986年諾貝爾物理學獎授予了電子顯微鏡的發明者盧斯卡和掃描隧道顯微鏡的發明者賓尼格和羅勒,他們的發明使科學家有了一雙能看見...
雷射掃描共聚焦顯微鏡(Laser scanning confocal microscope)是20世紀80年代中期發展起來並得到廣泛套用的新技術 [1] ,它是雷射、電子攝像和計算機圖像處理等現代高科技...