電子顯微技術是一種利用高解析度和放大倍率的電子顯微鏡(SEM)對材料進行特徵分析如形貌觀察、能量色散X射線分析等分析的技術。
電子顯微技術在計量分析測定、立體觀察、圖像分析、電子工業、缺陷探測等領域都有著廣泛的套用。
基本介紹
- 中文名:電子顯微技術
- 外文名:electron micro scope(電子顯微鏡)
- 定位:20世紀重大發明之一
- 時間:1986年
- 所屬:物理學獎
電子顯微技術是一種利用高解析度和放大倍率的電子顯微鏡(SEM)對材料進行特徵分析如形貌觀察、能量色散X射線分析等分析的技術。
電子顯微技術在計量分析測定、立體觀察、圖像分析、電子工業、缺陷探測等領域都有著廣泛的套用。
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