掃描電化學測試系統

掃描電化學測試系統是一種用於物理學、化學、材料科學學科領域的電子光學儀器，於2016年3月14日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描電化學測試系統
• 外文名：Scanning Electrochemical Test System
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 所屬類別： 分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

1.微區掃描探針平台採用納米解析度、快速精確的閉環壓電陶瓷馬達控制X、Y、Z移位系統，直接驅動， 2.掃描範圍(X、Y、Z)不低於100mm×100mm×100mm ， 3.線性位移識別解析度不低於50nm， 4.掃描解析度（X、Y、Z）分別都小於1nm 5.最大掃速不低於10mm

主要功能

掃描電化學測試系統，主要用於研究油氣輸送管道、設備局部腐蝕，應力腐蝕開裂、裂紋尖端擴展微觀分析與機理。包含5個測試系統（微區掃描阻抗測試系統（LEIS），掃描振動電極測量系統（SVET），掃描電化學顯微鏡（SECM），掃描開爾文探針系統（SKP），掃描電解液微滴測試模組（SDC））。傳統的電化學測試方法局限於探測整個樣品的巨觀變化，測試結果只反映樣品的不同局部位置的整體統計結果，不能反映出局部的腐蝕及材料與環境的作用機理與過程。而微區探針能夠區分材料不同區域電化學特性差異，且具有局部信息的整體統計結果，並能夠探測材料/溶液界面的電化學反應過程。