掃描開爾文探針

掃描開爾文探針是一種用於化學領域的分析儀器，於2010年12月24日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描開爾文探針
• 產地：英國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2010年12月24日
• 所屬類別：分析儀器 > 電化學儀器

技術指標

1、技術：無損表面分析技術;2、功函式解析度 ：5-10 meV(50微米針尖)；3、針尖到樣品表面距離可以達到400納米以內;4、功函式或表面勢、樣品形貌3維地圖繪製;5、測定濕度可控。

主要功能

測量導體材料的表面功函式或半導體、絕緣表面的表面勢。