INNOVA開爾文探針顯微鏡

INNOVA開爾文探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年8月3日啟用。

基本介紹

• 中文名：INNOVA開爾文探針顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2012年8月3日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

公函解析度 （1mV）。

主要功能

測試樣品表面光電壓能譜和公函式測試。