微區腐蝕電化學測試系統是一種用於化學領域的儀器，於2014年08月20日啟用。
基本介紹
- 中文名：微區腐蝕電化學測試系統
- 產地：美國
- 學科領域：化學
- 啟用日期：2014年08月20日
技術指標,主要功能,
技術指標
測試系統含：掃描平台+掃描振動電極技術（SVET）+掃描電化學顯微鏡（SECM）+掃描開爾文探針技術(SKP)。 掃描平台：掃描範圍：30*50*70mm，解析度1nm，最大掃速10mm/s。 SVET模組：差分電位計：通用模式範圍: ±10V；振幅：軟體設定0-30微米垂直距離至樣品表面；電化學靈敏度：小於5μA/cm2。 SKP模組：差分電位計：通用模式範圍: ±10V；振幅：軟體設定0-30微米垂直距離至樣品表面。 SECM模組：電流範圍: 4nA-650mA，探針電位: ±10V，基體電位：±10V，槽壓：±12V，電流測量精確度：
主要功能
主要功能：測試系統一體化多個微區掃描電化學測試技術。可實現對材料不同微尺度區域內腐蝕電化學特性的測量，進而實現微區腐蝕電化學的研究。
