開爾文探針掃描系統

開爾文探針掃描系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2017年5月8日啟用。

基本介紹

• 中文名：開爾文探針掃描系統
• 產地：英國
• 學科領域：化學、材料科學
• 啟用日期：2017年5月8日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針

技術指標

解析度：2毫米探針的功函解析度優於3 meV，50微米探針的功函解析度優於10 meV；掃描區域不小於：50×50毫米；位置解析度：0.4微米。

主要功能

表面狀態分析，功函測量。