The Kelvin Probe Force Microscopy and Its Re

《The Kelvin Probe Force Microscopy and Its Re》是清華大學出版社於2019年12月1日出版的圖書，作者是馬宗敏。

基本介紹

• 書名：The Kelvin Probe Force Microscopy and Its Re
• 作者：馬宗敏
• 出版社：清華大學出版社
• 出版時間：2019年12月1日
• 定價：89 元
• ISBN：9787302539537

內容簡介

《The Kelvin Probe Force Microscopy and Its Re》主要面向高分辨的掃描探針顯微技術，重點是原子力顯微鏡、開爾文探針力顯微鏡（KPFM）關鍵技術及典型套用領域，解決KPFM在測量過程中的耦合，提高系統的檢測靈敏度，實現材料原子級高精度與高可靠性測量，為掃描探針技術在精密測量物理領域的基本常數高精度測量提供更為精準的工具和方法。

圖書目錄

第1章簡介

1.1前言

1.1.1納米科學與表面

1.1.2表面電荷

1.1.3掃描探針顯微鏡

1.1.4 KPFM中產生的偽像

1.2出版目的

1.3概述

參考文獻

第二章非接觸式原子力顯微鏡理論

2.1前言

2.2原子力顯微鏡

2.2.1提示-樣本互動

2.2.2 AFM中的操作模式

2.2.3系統穩定性

2.2.4懸臂原理

2.2.5懸臂動力學

2.2.6NCFMAFM中的噪聲

2.3 SPM在微觀測量/納米中的套用測量

2.3.13D成像

2.3.2微電子/納米電子

2.3.3計量學

2.3.4操作與光譜學

參考文獻

第3章開爾文探針力顯微鏡

3.1 KPFM基礎

3.2調幅和調頻KPFM中的模式

3.3最小可檢測接觸電位差

AM和FMKPFM

3.4KPFM在靜電力測量中

3.5結論

參考文獻

第四章NCAFM/ KPFM設備

4.1前言

4.2超高壓NCAFM/ KPFM設備

4.3AFM / KPFM單元

4.3.1 AFM單元示意圖

4.3.2纖維和樣品進入階段

4.3.3管道掃瞄器

4.3.4懸臂和樣品架

4.3.5隔振系統

4.4干涉儀檢測方法

4.4.1光干涉理論

4.4.2干涉儀檢測

4.5W濺射儀

4.6NCAFM/ KPFM系統

4.6.1靜電力調製檢測

（鎖相放大器）

4.6.2振盪控制器系統

4.6.3z和本地接觸電位差反饋

控制器系統

4.7結論

參考文獻

第五章NCAFM在Cu（110）O表面的原子解析度

5.1前言

5.2Cu（110）O表面的研究

家用NC-AFM進行5.3Cu（110）測量

5.4實驗結果與討論

5.5結論

參考文獻

第六章外差-AM澄清雜散電容效應

原子解析度的KPFM（HAMKPEM）

6.1前言

6.1.1背景

6.1.2概述

6.2HAMKPFM的原理

6.2.1HAMKPFM

6.2.2 AM，FM和AM中的雜散電容效應

HAMKPFM

6.2.3地形誘發的VCPD偽影

測量

6.3HAM-KPFM的性能

6.3.1實驗細節

6.3.2AM和HAMKPFM中的雜散電容效應

6.3.3AM和地表電位測量

HAMKPFM

6.3.4對距離的解析度依賴性

三個KPFM

6.4AM，FM和HAMKPFM中的電位敏感性

6.4.1調頻和調頻的潛在靈敏度原理

HAMKPFM

6.4.2實驗細節

6.4.3結果與討論

6.4.4表面電位測量

6.5結論

參考文獻

第七章不使用FMKPFM消除幻象力

原子解析度的反饋

7.1前言

7.1.1背景

7.1.2概述

7.2無偏差反饋的調頻方法理論

7.2.1隧道電流引起的幻像力

KPFM測量

7.2.2無反饋的FMKPFM避免幻像力

7.2.3無反饋的FMKPFM實驗

7.2.4FMKPFM實驗中有無反饋

7.3潛在圖像原子尺度的起源

FMKPFM無反饋

7.3.1z光譜測量

7.3.2原子尺度勢能圖像的來源

7.4結論

參考文獻

附錄一

理論分析的細節

A.靜電力

B.HAMKPFM中的最小可檢測CPD

參考文獻

附錄二

FMKPFM無反饋