原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2012年12月21日啟用。
基本介紹
- 中文名:原子力掃描探針顯微鏡
- 產地:美國
- 學科領域:生物學
- 啟用日期:2012年12月21日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2012年12月21日啟用。
原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2012年12月21日啟用。技術指標1. 大號掃描器 掃描範圍: 100 μm x 100 μm Z軸範圍: 7 μm 噪聲: 0.5? RMS 2. 小號掃描器 掃...
原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧於一九八五年所發明的,其目的是為了使非導體也可以採用類似掃描探針顯微鏡(SPM)的觀測方法。原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在於並非利用電子隧穿效應,而是...
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導顯微鏡,掃描電化學顯微鏡等)的統稱,是國際上近年發展起來的...
快速掃描原子力顯微鏡是一種用於化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2018年5月8日啟用。技術指標 接觸模式成像,輕敲模式成像, ScanAsyst智慧型掃描模式,空氣/溶液環境下定量納米力學模式, 掃描範圍: 35 μm×35 μm×3 μm。...
原子力掃描探針是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年11月26日啟用。技術指標 1.解析度: 0.50~0.55nm範圍內,2.系統噪聲≤0.2Å,3.系統成像模式及功能塊:接觸力成像模式、摩擦力成像模式、實現生物感測器電化學測試所需的...
團體標準《二維材料厚度測量—原子力顯微鏡法》(T/CSTM 00003-2019)結合原子力顯微鏡掃描技術和機率分布統計方法,對二維材料的超薄厚度進行準確測量,建立原子力顯微鏡測量二維材料厚度一致性測試方法,可有效避免污染、噪音等因素對厚度測量...
實驗方面,基於掃描探針顯微鏡,通過結合電流模式成像和壓電模式成像,建立了可以表征鐵電隧道結微區輸運、極化分布和局域焦爾熱效應的原位同步分析方法。結合理論分析和實驗分析結果,揭示了鐵電隧道結電導在納米尺度上的空間非均勻分布於厚度...
《Springer手冊精選系列•納米技術手冊:掃描探針顯微鏡(第3冊)(第3版影印版)》內容主要包括:掃描探針顯微鏡——工作原理、檢測方法和探測;掃描顯微鏡的普通探針和特殊探針;非接觸式原子力顯微鏡及相關問題;低溫掃描探針顯微鏡;動態力...
高解析度原子力顯微鏡主機是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年1月18日啟用。技術指標 解析度:XY 0.001nm,Z解析度:0.05nm, 掃描器範圍:XY範圍50μm×50μm, Z掃描範圍:15μm,測量樣品尺寸:20mm...
超高真空低溫掃描探針系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2019年10月12日啟用。技術指標 XPS能量解析度:Ag 3d5/2 峰能量解析度優於0.5eV。主要功能 超高真空原子力顯微鏡系統是一種國際領先的原子力顯微技術。通過對測量...
掃描探針顯微鏡自20世紀80年代初出現以來,在短短20年的時間裡,一直是各國科學家的研究熱點,並迅速發展成為一個含20多個品種的龐大顯微鏡家族。本書共分七章,依次向讀者展現:顯微鏡的發展歷史;系統介紹掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和...
掃描探針顯微鏡是一類高度複雜新型微觀物性分析 I具的總稱,用探針探測材料微區信號, 正在物理、化學、 材料等領域研究前沿發揮出重要作用。磁力顯微鏡作為其種類之一,除了 基於原子力獲取表面形貌像,還將樣品表面雜散磁場的分布圖形化,可以...
低溫掃描原子力成像系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2019年4月29日啟用。技術指標 AFM/STM;解析度:0.1 nm(XY),0.05 nm(Z);真空:1.8´10(-8 )Pa;溫度:7 K。主要功能 在低溫高真空環境下,實現...
SPM解析度:7*7矽表面原子分辨;溫度範圍:30K~1000K;背景真空:2*10^-10Torr;掃描範圍:5微米;偏壓:0~5V。主要功能 能夠提供全部的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡成像技術,提供材料和器件在原子水平上的表面特徵,給材料和器件的...
靜電力顯微鏡(英文名:Electrostatic Force Microscopy, 簡稱EFM)是一種利用測量探針與樣品的靜電相互作用,來表征樣品表面靜電勢能,電荷分布以及電荷輸運的掃描探針顯微鏡。靜電力顯微鏡的工作原理與原子力顯微鏡類似。關鍵部分都是由懸臂樑...
掃描電子顯微鏡S-570(Scanning Electron Microscope (SEM))離子減薄儀691(Precision Ion Polishing System (PIPS))儀器化落錘衝擊試驗機 高頻疲勞試驗機 冷場發射掃描電子顯微鏡S-4700 潤濕角測量儀 原子力掃描探針顯微鏡 電子探針X射線...