微觀力學綜合測試系統

微觀力學綜合測試系統是一種用於力學、物理學、化學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2019年1月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：微觀力學綜合測試系統
• 產地：比利時
• 學科領域：力學、物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2019年1月28日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 力學性能測試儀器

技術指標

動範圍≥50mm，方向步長解析度≤3nm， (e) 原位掃描探針成像：成像時間＜3min/pic，原位位置控制精度＜±10nm，掃描解析度256×256像素點，自定義X-Y掃描比例快速定位。

主要功能

微觀力學測試系統融合了納米力學測試儀和原子力顯微鏡（AFM）的成像和納米表征能力。該系統具有準靜態和動態壓痕技術，兼具原子力顯微鏡的多種功能，能夠滿足複合材料研發和製備中所需的高精準的微納米表征，提供力學測量中所需的靈活性、魯棒性和可靠性的量化評估結果。對材料的微觀力學進行原位表征，在複合材料的配方設計和工藝調控階段提供不同微觀結構和載荷條件下的表面硬度、附著力、楊氏模量、摩擦力、磨耗量等性能的微觀原位測試工作。設備在測試材料微觀力學性質的同時可以通過成像系統獲得原位的材料表面形貌信息，用於材料表面微觀力學原位表征和分析，並且具有極高的穩定性和可重複性的高精密度。