低溫原子結構分析與譜學測量系統

低溫原子結構分析與譜學測量系統是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2018年6月30日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫原子結構分析與譜學測量系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、化學
• 啟用日期：2018年6月30日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

設備技術指標達到驗收要求。

主要功能

低溫高真空原子力顯微鏡實驗。