低溫磁場掃描探針顯微鏡

低溫磁場掃描探針顯微鏡是一種用於計算機科學技術領域的分析儀器，於2014年12月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫磁場掃描探針顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：計算機科學技術
• 啟用日期：2014年12月18日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

8T垂直與樣品表面的磁場。 超高真空，各腔達到1x10-10torr的真空。 低溫達到2K。 掃描頭z方向的分辨小於0.02nm，XY的分辨小於0.05nm，能夠獲得Si（111）-7x7的原子分辨圖像。

主要功能

在低溫（液氦溫度4K，液氮溫度77K）的掃描探針顯微鏡。