掃描隧道顯微鏡控制系統

掃描隧道顯微鏡控制系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2010年8月3日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描隧道顯微鏡控制系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2010年8月3日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

主要性能指標：掃描範圍：2μm×2μm ；解析度：橫向～0.1nm；縱向～0.01nm；真空度：～10-8 Pa；最大尺寸樣品：～Φ10mm；變溫範圍：25K～500K。

主要功能

功能：二維成像、掃描隧道譜、自旋極化STM、原子分子操縱。套用範圍：1.金屬、半導體、超導體表面；2.低維納米結構，如單分子、量子點、納米線；3.局域化學反應檢測和控制。