壓電陶瓷掃描控制系統

壓電陶瓷掃描控制系統是一種用於物理學領域的儀器，於2009年07月09日啟用。

基本介紹

• 中文名：壓電陶瓷掃描控制系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2009年07月09日

技術指標

10×260V輸出，AFM控制系統。

主要功能

用於壓電陶瓷掃描的電壓控制，反饋控制；可外接各種掃描探針系統，如掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡，掃描近場光學顯微鏡等。