共焦干涉儀

共焦干涉儀是一種高解析度的光譜分析儀器。它特別適合分析雷射輸出模譜結構,監控單頻雷射輸出和探測鎖相效應,也可用來分析光譜線輪廓、超精細結構和同位素位移;它還可用作可調諧的窄帶通濾波器等。

基本介紹

  • 中文名:共焦干涉儀
  • 外文名:Confocal interferometer
  • 領域:光學
  • 屬性:光譜分析儀器
  • 作用:分析光譜線輪廓等
  • 套用:高解析度雷射光譜測量等
工作原理,技術參數,簡介,腔體結構,用途,

工作原理

共焦干涉儀最大透過率的頻率就是干涉儀的共振頻率,它決定於相鄰相干光束的光程差。光程差正比於共振腔腔長,因而干涉儀透過波長是腔長的線性函式。若線性地改變腔長就可對波長進行線性掃描。干涉儀的透過光經光電轉換,光源的頻譜分布則可直接顯示在示波器的螢光屏上或記錄器上。
共焦干涉儀是一個無源腔,由兩塊球形凹面反射鏡構成,兩塊鏡的曲率半徑和腔長相等(即
,構成共焦腔)。反射鏡一塊固定不動,另一塊固定在可隨外電壓變化而變化的壓電陶瓷環上。如圖1所示,由低膨脹係數材料製成的間隔圈,用以保持兩球凹面反射鏡
總處於共焦狀態。壓電陶瓷環的特點是,當在環的內壁上加一定數值的電壓時,環的長度將會隨之發生變化,且長度的變化與外加電壓的幅度成線性關係,由於長度變化很小,僅為波長數量級,所以它不會改變腔的共焦狀態。
當一束波長為λ的光近軸入射到干涉儀內時,在忽略球差的條件下,在共焦腔中經四次反射走一閉合路徑,光程近似為
,如圖1
共焦干涉儀
圖1 共焦干涉儀內部光路圖
光在腔內每走一個周期都會有部分光從鏡面透射出去,一束光將有1、1'兩組透射光,若m是光線在腔內往返的次數,則1組經歷了4m次反射後,1'組經歷了4m+2次反射. 設反射鏡的反射率為R,透射係為T,1、1’兩組透光強分別為
式中
是入射光強,β是往返一次所形成的位相差,即
u為腔內介質的折射率。
β=kπ(k為任意整數)時即4uL=kλ,此時透射率有極大值。

技術參數

儀器的頻寬
儀器的頻寬
是指干涉儀透射峰的頻率寬度,也是干涉儀能分辨的最小頻差,通常反射鏡的反射率越高、調整精度越高、腔內損耗越小、則頻寬越窄. 為了分辨相隔很近的譜線. 要求干涉儀有足夠窄的頻寬.
精細常數
精細常數是用來表征掃描干涉儀分辨本領的參數,它的定義是:自由光譜範圍與最小分辨極限之比,即在自由光譜範圍內能分辨的最多的譜線數目,精細常數的理論公式為
式中R為凹面鏡的反射率,F只與鏡片的反射率有關。實際上精細常數還與共焦腔調整精度、鏡片加工精度以及掃描干涉儀的入射和出射光孔等因素有關。所以在實際套用中,F經常是由實驗來確定的。根據精細常數的定義
式中
是干涉儀所能分辨出的最小波長差,
是干涉儀所能分辨出的最小頻差,實驗中就是一個模的半值寬度,從展開的模譜中我們可以測出F的大小。

簡介

共焦干涉儀是一種高解析度的光譜分析儀器。它特別適合分析雷射輸出模譜結構,監控單頻雷射輸出和探測鎖相效應,也可用來分析光譜線輪廓、超精細結構和同位素位移;它還可用作可調諧的窄帶通濾波器等。
1958年,法國人柯勒斯(Connes)根據多光束的干涉原理,提出了一種共焦球面干涉儀。到了二十世紀60年代,這種共焦系統廣泛用作雷射器諧振腔。同時由於雷射科學的發展,迫切需要對雷射器的輸出光譜特性進行分析,於是在共焦球面干涉儀的基礎上發展了一種球面掃描干涉儀,這種干涉儀用壓電陶瓷作為掃描元件或用氣壓進行掃描。

腔體結構

(如圖2)
共焦干涉儀
圖2
2—反射鏡,3—針孔光欄,4—壓電陶瓷,5—光電接收放大器。
與通常的平面法珀干涉儀相比有如下優點:
(1)衍射損失小几個數量級;
(2)對反射鏡光圈的要求大大降低;
(3)對反射鏡平行性調整公差要求較低;
(4)與入射光束準直比較容易,可有較大的接收角。
共焦干涉儀與一般球面干涉儀相比主要優點是“模簡併”,與一般干涉儀不同,它並不需要與入射雷射束進行模匹配,它甚至不需要精確與入射雷射束同軸,而處於微離軸照明還避免了對雷射器的反饋效應。

用途

(1)高解析度雷射光譜測量
(2)雷射器模式檢測與控制
(3)單模雷射器生產與檢測
(4)超聲振動探測(無損檢測)
(5)雷射陀螺生產與檢測
(6)超高頻時鐘信號提取/恢復(光纖通信)
(7)穩頻器
(8)鑒頻器
(9)濾波器

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們