優可測Atometrics是板石智慧型旗下專注於檢測領域的國產自主品牌。致力為客戶提供三維形貌測量產品、解決方案及相關服務。
優可測主要產品包含白光干涉儀、線雷射測量儀、光譜共焦位移感測器、薄膜厚度測量儀、衍射三維形貌儀等不同原理的3D精密檢測測量光學儀器和線上測量單元。用於半導體、光學鏡片、材料、3C消費類電子、醫療、刀具等行業，覆蓋從微米到納米到亞納米精度，滿足生產、研發和品控過程表面粗糙度、台階、3D形貌、三維形貌比對、高度、幾何圖形、平面尺寸、3D輪廓等測量需求。
基本介紹
- 中文名：優可測
- 外文名：atometrics
- 所屬行業：精密測量
- 所屬公司 ：板石智慧型科技（武漢）有限公司
主要產品,地址,
主要產品
白光干涉儀AM系列
用途：為半導體、光學鏡片、材料、3C消費類電子、醫療、刀具等行業提供納米級別粗糙度、台階高度、微觀形貌、三維形貌比對、高度、平面尺寸等要素測量。
特點：最高0.03nm精度，快速測量，可客制化測量工具和線上測量。
線雷射 AR系列
用途：為3C消費類電子、新能源、汽車零部件、鐵路交通、精密製造等行業提供線掃描輪廓檢測。
特點：體積小易安裝，無需額外控制器，超高檢出效率，可客制化的豐富測量功能，側邊低反射弱光掃描。
光譜共焦位移感測器AP系列
用途：為半導體、3C產品、新能源、玻璃製品等行業提供形狀、輪廓、高度、厚度等光譜共焦檢測能力。
特點：不受材質影響，實現穩定測量，重複精度高達10nm，大角度特性，8mm直徑測頭，專為自動化組裝設計。
薄膜厚度測量儀AF系列
用途：為半導體、精密光學、液晶、新能源、醫療、刀具、高分子材料等行業提供高精度薄膜厚度測量。
特點：精度高，可達0.1nm；可測多層膜，最多可測10層膜；支持客制化；支持離線/線上/Mapping等多場景測量。
衍射三維形貌儀NM系列
用途：為光通訊矽波導、NAND、生物晶片、DRAM、AR/VR結構光柵、光學薄膜等領域提供納米級的膜厚、占空比、側壁角等測量。
特點：高效、精準高精度測量；膜厚測量重複性可達0.01nm；折射率重複性可達0.0005。
地址
深圳總公司：深圳市福田區華富街道彩田路7006號深科技城一期C座14樓
武漢分公司：武漢市湯遜湖北路6號大學科技園1棟知新樓408
蘇州分公司：蘇州市蘇州工業園區蘇虹中路393號101
