低溫掃描探針顯微譜學系統

低溫掃描探針顯微譜學系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2019年9月24日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫掃描探針顯微譜學系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2019年9月24日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

1.無液氦系統； 2.低震動水平。在樣品區域,峰峰震動幅度小於1.2nm； 3.樣品降溫時間小於10小時； 4.磁場強度最高到9T。

主要功能

attoDRY2100本底溫度1.8K；全自動控溫；可配置9T磁體attoAFM-MFM低溫原子力磁力顯微鏡。