掃描探針顯微鏡控制器

掃描探針顯微鏡控制器是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年3月2日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描探針顯微鏡控制器
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2018年3月2日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器

技術指標

電流輸入噪聲：5.8 pA(RMS)， 頻寬7 kHz； 輸入： /-10V，頻寬100 kHz，18bit，1MS/s； 輸出： /-10V，頻寬50 kHz，20bit，500 KS/s； 高壓輸出： /-150V，RMS噪聲小於49 �V (0-5 kHz)，輸出噪聲 3.0 mVpp (10 Hz-10kHz)； 樣品偏壓輸出： /-10V，輸出噪聲0.030 mVpp (0 Hz-300 Hz)； 前置放大器：Gain：10e3-10e9 V/A； AFM信號輸入： /-1V Sine，16bit，100MS/s ，5.4 pHz (@200 Hz-5 MHz)； AFM激發信號輸出： /-10V，18bit，100MS/s ，8 nV/√Hz (@200 Hz-10 MHz)； AFM功能：Lock-in，PLL，Kelvin Probe； 數據採集：同時10個通道，圖像解析度8192�8192。

主要功能

用於掃描探針顯微鏡的控制輸出及數據採集分析。