掃描探針顯微控制器

掃描探針顯微控制器是一種用於物理學領域的分析儀器，於2011年11月23日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描探針顯微控制器
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2011年11月23日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

輸入：8 模擬，2脈衝計數，9外部控制； 高壓輸出：10 (130V)，1.5 mVpp (0-30 kHz)； 樣品偏壓：1V或10V，0.03 mVpp (0-300 Hz); 反饋：線性和對數回響； 前置放大器：100 mV/nA, 頻寬30kHz, RMS噪聲小於2pA (1.5kHz頻寬， 0pF輸入電容)，最大可測電流100nA. 次級放大器：1，10，100； 數據採集和顯示：同時10通道，最高解析度81928192； PPLPro2：NC-AFM 控制 PLL數字調頻測量； 2100MHz 16 bit ADC； 2100MHz 16 bit DAC； 64 bit 內部頻率分辨（5.4 pHz）； 最大振盪頻率：3 MHz。 PMC100：可對9個壓電陶瓷驅動單元的獨立控制。

主要功能

用於掃描探針顯微鏡的控制輸出及數據採集分析。