掃描探針顯微控制系統

掃描探針顯微控制系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2019年3月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描探針顯微控制系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2019年3月22日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

電壓範圍：+/-10V ,有效解析度：20~24bit,模擬信號頻寬DC至100KHZ,模擬轉換頻寬18bit，1MS/S。

主要功能

分離特定載波頻率信號。