智慧型型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、材料科學、自然科學相關工程與技術領域的分析儀器,於2018年6月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:智慧型型掃描探針顯微鏡
- 產地:中國
- 學科領域:物理學、材料科學、自然科學相關工程與技術
- 啟用日期:2018年6月15日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
MultiMode 8掃描探針顯微鏡系統技術參數: 擁有Tapping Mode、Contact Mode和Scanasyst Mode測試模式;橫向最大掃描範圍為125x125x5μm;z軸解析度為1nm;附帶有液下測試的配件;掃描器為J型掃描器。
主要功能
獲取固/液等多種形態樣品的納米級微觀形貌以及材料表面性質分析。