環境型掃描探針顯微鏡

環境型掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器，於2012年12月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：環境型掃描探針顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2012年12月01日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針

技術指標

150um*150um，120K-500K, SPM的所有功能。

主要功能

溫度從120K-500 K可調，可以在不同氣氛下觀察。