SPM控制系統是一種用於電子與通信技術領域的工藝試驗儀器，於2014年11月14日啟用。
基本介紹
- 中文名：SPM控制系統
- 產地：德國
- 學科領域：電子與通信技術
- 啟用日期：2014年11月14日
- 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備
技術指標,主要功能,
技術指標
1.能夠與現有超高真空AFM進行兼容； 2.能實現STM、AFM與KPFM的實時控制； 3.實現SPM的X、Y和Z方向的高壓放大驅動，頻寬2Hz左右，可調增益為1,4,7,14； 4.壓電驅動器能夠實現400V與200A左右的8通道輸出； 5.能夠實現SPM探針的高頻振動，鎖相環的頻率範圍為100Hz-5MHz左右； 6.能實現0-3kHz的調製頻率輸出，進行KPFM的實驗測量； 7.採用PTB標準樣品進行校準，可對樣品進行精確的檢測區域定（0.01pm）； 8.SPM掃描仿真軟體，可視化，完全數位化的系統； 9.32為浮點信號處理器，並能用鎖相放大器檢測，同時分離磁交換力。
主要功能
SPM控制系統可以實現探針振動控制和掃描距離控制，實現平台的納米測量可視化。在振動控制系統的控制下，探針以恆定的振幅（一般幾納米）做高頻振動，當由於針尖與表面的作用力作用導致頻率發生小幅移動時，位移感測器就會把此信息傳輸給掃描距離控制系統，通過此控制系統能從探針和試料間的作用力中分離磁交換力。
