原子力顯微鏡及電化學控制系統是一種用於化學、生物學、化學工程領域的計量儀器，於2011年3月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：原子力顯微鏡及電化學控制系統
- 產地：美國
- 學科領域：化學、生物學、化學工程
- 啟用日期：2011年3月1日
- 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 原子力顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
(1)掃描器 1、原子力顯微鏡平台掃描器二個 高分辯掃描器: XY:12um, Z:2.5um 2、進針方式:智慧型自動進針方式 3、原子力顯微鏡掃描器為樣品掃描方式，高分辯掃描器 5、掃描隧道顯微鏡平台掃描器二個 高分辯掃描器: XY:10um, Z:2um 高分辨大範圍掃描器：XY:0.4um, Z:0.4um 6、掃描隧道顯微鏡掃描器為探針掃描方式，高分辨掃描器 (2)SPM控制系統及功能 1、系統可實現LiftMode的控制，抬高模式 2、控制精度：掃描的數字解析度就不依賴於掃描尺寸和偏移量。在不更換掃描器的情況下，給所有的掃描軸上的形狀和偏移量提供不小於16位 3、定量相位成像模組：－180？到＋180？全線性相位成像 4、控制單元精度 X方向：三個獨立16位DAC Y方向：三個獨立16位DAC Z方向：三個獨立16位DAC。
主要功能
原子力顯微鏡能夠在大氣及液體環境下準確地觀測樣品表面微區(納米及亞微米尺度)三維形貌；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，能測試多種材料材料、膜材料、生物材料、高分子材料等非金屬材料以及金屬材料、複合材料的多種物性.包括表面組分區別、溫度、表面電勢、磁場力、靜電力、摩擦力以及電化學相互作用力等的測量.。
