用於太赫茲近場顯微的掃描探針系統

用於太赫茲近場顯微的掃描探針系統是一種用於物理學領域的雷射器，於2019年6月12日啟用。

基本介紹

• 中文名：用於太赫茲近場顯微的掃描探針系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2019年6月12日
• 所屬類別：雷射器

技術指標

掃描頭（超高真空下）：解析度＜1 埃 X,Y; ＞0.1 埃 Z；掃描範圍：＞4 μm X,Y; ＞0.5 μm Z；熱漂移：Thermal Drift＜2 埃/mi。

主要功能

掃描太赫茲信號的近場時域光譜。