電化學掃描探針顯微術（electrochemical scanning probe microscopy）是2016年公布的化學名詞。
基本介紹
- 中文名：電化學掃描探針顯微術
- 外文名：electrochemical scanning probe microscopy
- 所屬學科：化學
- 公布時間：2016年
定義,出處,
定義
研究電極表面形貌和性質的掃描探針顯微技術。
出處
《化學名詞》第二版。
電化學掃描探針顯微術（electrochemical scanning probe microscopy）是2016年公布的化學名詞。
電化學掃描探針顯微術（electrochemical scanning probe microscopy）是2016年公布的化學名詞。定義研究電極表面形貌和性質的掃描探針顯微技術。出處《化學名詞》第二版。1...
電化學掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2009年12月10日啟用。技術指標 位系統解析度：Z: 100 nm + Piezo 5 nm；X, Y: 100 nm (ElProScan)；X, Y: 15 nm (ElProScan HR)。掃描範圍：50mm （全方位）。Z軸壓電材料參數： Lateral Guiding：1 nm; 解析度：1nm；重現性：室溫...
掃描電化學探針顯微鏡是一種用於化學、物理學領域的分析儀器，於2016年7月21日啟用。技術指標 掃描範圍（x,y,z）大於100nm掃描驅動解析度最高0.1nm閉環定位線性零滯後編碼器，直接實時讀出x,z和y位移軸解析度（x,y,z）20nm最大掃描速度12.5mm/s測量解析度。主要功能 適用於材料科學，生命科學，聚合物研究領域...
掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導顯微鏡，掃描電化學顯微鏡等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、雷射技術、微弱信號檢測技術、精密機械設計和...
《掃描探針電化學》是陳立桅等人編著，科學出版社於2024年9月出版的圖書，內容簡介 掃描探針顯微鏡是從微觀層面研究電化學界面的一類重要工具。《掃描探針電化學》全面涵蓋了各類套用於電化學領域的掃描探針顯微術的工作原理、發展歷程及其科學價值。《掃描探針電化學》的出版旨在推動電化學與掃描探針顯微術兩個領域的融合...
掃描探針顯微術 掃描探針顯微術是2019年公布的冶金學名詞。定義 解析度在納米量級的測量固體樣品表面實空間形貌的分析方法。根據測量的相互作用類型，可分為：掃描隧道顯微術，原子力顯微術，磁力顯微術等。出處 《冶金學名詞》。
《掃描電化學顯微鏡組合探針技術及其微加工套用》是依託廈門大學，由詹東平擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 掃描電化學顯微鏡(SECM)以超微電極為探針，通過控制探針或/和基底的電勢激發微區電化學反應，是一種極具潛在套用價值的無掩模微加工技術。本項目擬發展組合探針技術，提出SECM繪圖儀新思路，通過激發探針與基...
對常用的電化學測量方法均給予了詳細的介紹，包括穩態極化曲線的測量方法、控制電流階躍暫態法、控制電勢階躍暫態法、線性電勢掃描伏安法、脈衝伏安法、交流阻抗法、電化學掃描探針顯微技術、光譜電化學技術及其它聯用表征技術。重點介紹的是各類測量方法的原理、測量技術和數據解析方法，同時兼顧具體的實驗細節。本書可用作...
《掃描電化學微探針/掃描隧道顯微鏡聯用系統的研製》是依託廈門大學，由林昌健擔任項目負責人的專項基金項目。項目摘要 針對掃描隧道顯微鏡難以測試表面微區化學活性和化學微環境難題，提出研製掃描電化學微探針/掃描隧道顯微鏡聯用系統，可測量表面納米形貌結構、微區電化學活性及界面微化學肪常迪直礱嫘蚊步峁梗...
全書共分9章，在介紹電化學測量基礎知識的基礎上，加入了測試新技術和新方法，內容包括電化學測量的基本原則和主要步驟、電極過程控制及其動力學方程、穩態極化曲線的測定、控制電流暫態法、控制電位暫態法、電化學阻抗法、電化學噪聲法、電化學掃描探針顯微技術等，以及在金屬腐蝕、表面塗層防護、新能源材料器件等方面的...
掃描電化學顯微鏡（SECM）可以原位檢測具有不同活性的二次相差異。鎂合金微弧氧化膜表面的活性點或活性區域的大小和分布與其本身的膜厚和微觀結構有關，也與氯離子濃度有關。SECM微區氫氣收集結果表明，陰極或陽極極化程度增大，析氫增加、氫氣空間分布不均勻性加劇。基於Laser Puller開發了次微米探針（a＜500 nm），...
掃描電化學探針測試系統是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的物理性能測試儀器，於2015年11月16日啟用。技術指標 VS-SECM電化學掃描顯微鏡系統包括電化學工作站，可進行電化學噪聲測試；VS-SKP掃描卡爾文探針測試； VS-LEIS局部交流阻抗測試。主要功能 VersaScan掃描電化學探針測試系統能夠為電化學及材料測試提供極高...
《基於掃描隧道顯微術的電化學微細加工機理和方法研究》是依託浙江大學，由章海軍擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 本項目提出和發展基於掃描探針顯微術的電化學微細加工方法。在理論上研究毛細管微探針與加工基板之間的離子電流效應和電化學效應，揭示了微細加工的機理及加工質量的綜合影響因素，據此建立電...
《電化學分析儀器》是《分析儀器使用與維護叢書》的分冊之一。《電化學分析儀器》主要講述了電化學分析技術的發展歷史、電化學分析儀器的分類及發展趨勢。重點介紹了電化學測量基礎知識，電化學分析儀器原理和電化學分析儀器技術。對電化學分析數據處理和模擬、電化學掃描探針顯微技術、電化學感測器、常見的電化學綜合測試...
隨著科學技術的飛速發展，科學研究進入了微米、納米尺度的領域，先進的顯微成像儀器發展為獲取微納米精度信息的重要工具。作為現代儀器分析手段的重要分支之一，電分析化學技術具有靈敏度高、選擇性好、回響時間短和方法簡單等優點。掃描電化學顯微鏡(Scanning Electrochemical Microscope, SECM)技術可以同時提供物體的形貌和電...
掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子，它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的解析度。此外，掃描隧道顯微鏡在低溫下（4K）可以利用探針尖端精確操縱原子，因此它在納米科技既是重要的測量工具又是加工工具。簡介 STM使人類第...
分三個部分共11章：第一部分簡要介紹了電化學基本原理及相關概念，簡明扼要地闡述了電極過程的基本動力學；第二部分詳盡地介紹了電化學測量的入門知識，講述了穩態極化法、電流階躍、電位階躍、線性掃描、循環伏安和電化學阻抗等測試技術；第三部分對電化學研究領域快速發展的電化學噪聲、超微電極、掃描探針顯微術、...
書中首先回顧了半個世紀來，譜學電化學從建立初期到成長壯大的歷程，針對電化學拉曼光譜技術、電化學衰減全反射表面增強紅外光譜技術、電化學非線性光學技術、電化學質譜技術、量子化學理論在譜學電化學中的套用和電化學掃描探針顯微術，講解了其原理與特點、實驗技術和理論計算的要點與細節，總結了這些方法與技術在界面...
射線散射和紅外反射吸收光譜 12 電化學界面研究中的彈性共振和非彈性X 光散射過程 13 原位電子自旋共振譜研究電極表面順磁物質和電極材料內部的電子自旋 14 耦合界面電化學與核磁共振譜：電子結構透視 15 從階梯晶面到有序二元金屬電極：電化學微分質譜和電化學掃描探針顯微術研究吸附和電催化 主題索引 ...
4 離子液體在金屬與半導體納米尺度電化學結晶過程中的套用 Walter Freyland，ChitradurgaL.Aravinda，Ditimar’Borissov 4.1 引言 4.2 離子液體的電化學和界面化學特性 4.3 離子液體的變溫電化學掃描探針顯微技術（SPM）研究 4.4 金屬欠電位沉積：成相及相變 4.4.1 銀在金（111）表面電沉積：水溶液與離子液體...
其關鍵技術原理是基於表面等離子共振光學信號和局部電流信號之間的光-電定量關係，創造性地以光學讀出方式獲取電化學圖像，從而有效克服了掃描探針對其時間和空間解析度的限制。此外，該技術能夠方便地對同一樣本進行電化學和螢光顯微成像，有助於對樣品的全面分析。本項目將致力於研製此電化學顯微鏡的硬體和軟體平台使之...
分子束外延掃描探針顯微系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年12月7日啟用。技術指標 快速進樣室：材料為不鏽鋼304，腔體外徑為114mm，內壁電化學拋光處理 真空度：優於1.3�10-5Pa (焙燒前) 安放台：固定在磁力傳送桿上的安放台能夠安放4個樣品架和4個針尖架； 傳送桿：一根磁力傳送桿用於在快速進...
微區掃描電化學探針測試系統 微區掃描電化學探針測試系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年12月29日啟用。技術指標 掃描範圍(X、Y)：100mm×100mm；掃描解析度（X、Y、Z）: 1nm；線性位移編碼解析度：50nm；最大掃速 10mm/s。主要功能 該微區電化學測試系統為腐蝕測試提供高空間解析度的測試平台。
田昭武主要從事電化學研究，重視與數理及其他化學學科的結合，研究領域包括光電化學、電化學掃描隧道顯微技術、三維微加工技術、晶片生化實驗研究、譜學電化學和量子電化學等。2024年10月1日22時50分，田昭武教授在廈門安詳辭世，享年98歲。人物生平 1927年6月28日，田昭武出生於福建省福州市的一個詩書家庭。1946年，...
掃描探針顯微技術（SPM）主要包括掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM），其原理完全基於量子力學的隧道效應，通過測量表面隧道電流分布，可在真空、空氣和溶液等多種環境條件下，表征電極表面實空間原子級結構形貌。SPM具有超高分辨的表面測試技術，已廣泛套用於研究表面和界面過程，涉及到表面物理化學、材料科學、...
基於掃描探針顯微術的微細電解加工技術近年來受到廣泛關注 , 其中既有基於掃描電化學顯微鏡( SECM) 的 ,也有基於掃描隧道顯微鏡( STM )的 , 不過基本上都是處於實驗室研究階段 。該方法的特點是加工尺度可達微米級以下 ,顯示出微細電解加工技術在微/納加工領域的潛能 。加工中的陰極通常採用電化學腐蝕得到的探針...
掃描隧道顯微鏡（英語：Scanning tunneling microscope，縮寫為STM），是一種利用量子隧穿效應探測物質表面結構的儀器。它於1981年由格爾德·賓寧及海因里希·羅雷爾在IBM位於瑞士蘇黎世的蘇黎世實驗室發明，兩位發明者因此與電子顯微鏡的發明者恩斯特·魯斯卡分享了1986年諾貝爾物理學獎。掃描隧道顯微鏡技術是掃描探針顯微術...
2002.9 – 2005.3, 上海交通大學，化學化工學院，化學工程碩士學位 1998.9 – 2002.6, 上海交通大學，化學化工學院，化學工程與工藝學士學位 研究方向 1. 利用電化學原位X射線吸收和衍射光譜技術，指導開發新型燃料電池電催化材料 2. 利用電化學原位掃描探針顯微技術，研究電化學能源轉化和存儲裝置中界面現象 3...
作為主要參加者參與建立國內首台電化學現場掃描隧道顯微鏡；運用現場掃描探針顯微鏡開展界面電化學研究，包括電沉積、表面自組裝、金屬、半導體和導電高聚物在表面的納米構築、單分子電導的測量；開展掃描隧道顯微術與掃描電化學顯微術的聯用和雷射拉曼光譜的現場聯用，用以研究更為廣泛、豐富的電化學體系和問題；納米尺度...
本書介紹了納米材料的結構表征方法，主要包括納米粒子的XRD表征、納米粒子透射電子顯微鏡及光譜分析、納米粒子的掃描透射電子顯微術、納米糰簇的掃描探針顯微術、納米材料光譜學和自組裝納米結構材料的核磁共振表征。此外，本書還介紹了納米材料的電學、磁學、光學、電化學等性質。本書是納米材料表征方面的一部系統、完整的...