掃描電化學探針測試系統

掃描電化學探針測試系統是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的物理性能測試儀器，於2015年11月16日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描電化學探針測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：化學、材料科學、化學工程
• 啟用日期：2015年11月16日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 力學性能測試儀器 > 高溫高壓三軸儀

技術指標

VS-SECM電化學掃描顯微鏡系統包括電化學工作站，可進行電化學噪聲測試；VS-SKP掃描卡爾文探針測試； VS-LEIS局部交流阻抗測試。

主要功能

VersaScan掃描電化學探針測試系統能夠為電化學及材料測試提供極高空間解析度的一個測試平台。