納米力學測試新方法：掃描探針聲學顯微術

內容簡介

本書是關於納米力學測試新方法——掃描探針聲學顯微術(AFAM)的專著，是在作者前期研究的基礎上，經過總結和凝練而成。AFAM的基本原理是利用探針與樣品的接觸振動來對材料納米尺度的彈性性能進行成像或測量，主要涉及微懸臂樑的振動力學和接觸力學。本書的內容安排如下：第1章緒論，簡要介紹當前主要的納米力學測試方法以及AFAM的發展歷史和研究現狀。第2章首先簡介接觸力學的基本理論，隨後介紹納米壓痕的測試原理和套用。第3章簡介原子力顯微鏡的基本原理和套用模式。第4~6章詳細介紹AFAM的定量化原理及基本成像模式，測試和成像的準確度和靈敏度以及基於AFAM的黏彈性力學性能測試方法的原理。第7章介紹AFAM在納米科學技術各個領域的套用，主要涉及複合材料、智慧型材料和生物材料等。第8章介紹目前正在興起的另外一種納米力學測試技術——多頻原子力顯微成像技術。

圖書目錄

前言

第1章緒論

第2章接觸力學與納米壓痕方法

第3章原子力顯微鏡及力－距離曲線測試方法

第4章掃描探針聲學顯微術原理及實驗實現

第5章AFAM測試方法的準確度和靈敏度

第6章基於AFAM的黏彈性力學性能測試

第7章掃描探針聲學顯微術在材料測試方面的套用

第8章原子力顯微鏡多頻成像技術

索引

彩圖

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