小型掃描電子顯微鏡是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2018年11月7日啟用。
基本介紹
- 中文名:小型掃描電子顯微鏡
- 產地:日本
- 學科領域:化學工程
- 啟用日期:2018年11月7日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
小型掃描電子顯微鏡是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2018年11月7日啟用。
小型掃描電子顯微鏡是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2018年11月7日啟用。技術指標1.加速電壓是:0.3~20 kV連續可調; 2.二次電子解析度是:4.0 nm@20 kV,15 nm@1 kV背散射電子解析度優...
台式掃描電子顯微鏡(Desktop Scanning Electron Microscope)是一種體積小巧,可安放在實驗檯面上操作的電子顯微鏡。其原理和傳統(落地式)掃描電子顯微鏡相同。部件包括:電子發射、電磁透鏡、信號探測、真空系統、計算機控制系統。台式掃描電子...
攜帶型電子掃描顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2019年7月16日啟用。技術指標 二次電子解析度:≤4.0nm@20kV,15nm@1kV;背散射電子解析度:≤5.0nm@20kV(低真空);放大倍數:6~300000倍;五軸馬達台;X射線能譜儀。
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)是一種用於高解析度微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、解析度高,成像直觀、立體感強、放大倍數範圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,...
掃描電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡的電子束不穿過樣品,僅以電子束儘量聚焦在樣本的一小塊地方,然後一行一行地掃描樣本。入射的電子導致樣本表面被激發出次級電子。顯微鏡觀察的是這些每個點散射出來的電子,放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級電子...
掃描電子顯微鏡EVO LS 10 掃描電子顯微鏡EVO LS 10是一種用於生物學學科領域的顯微鏡及圖象分析儀器,於2016年10月19日啟用。分析項目 樣品表面形貌掃描。分析標準 遺傳-雷射掃描共聚焦顯微鏡樣品的標準。
鎢燈掃描電子顯微鏡是一種用於基礎醫學、臨床醫學、預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器,於2010年11月01日啟用。技術指標 1、 台式設計,節約能源:使用時只需連線上電源插頭,不需要冷卻循環水,只需放在桌面操作。 2、 像使用數位相機...
桌面電子掃描顯微鏡是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2016年11月24日啟用。技術指標 ①電子槍:場發射電子源 ②加速電壓:0.5 to 2 kV ③束流:0.2 to 1 nA ④解析度:<10 nm (@1kV) ⑤放大倍數:250 ...
電子顯微鏡SEM是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2010年6月15日啟用。技術指標 1 解析度 :高真空:二次電子 3.0nm(30kV),8.0nm(3kV) 背散射電子 3.5nm(30kV) 低真空:背散射電子 3.5nm(30kV)2放大倍數: 6x~1,000,...
日本JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於安全科學技術領域的分析儀器,於2007年11月13日啟用。技術指標 放大倍數5-10萬倍;三級物鏡光欄;高低真空切換;加速電壓0.5→30KV。主要功能 金屬材料,納米材料,微觀形貌分析及微區成份分析。
掃描式透射電子顯微鏡,是一種光學儀器。掃描式透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscope)使用高亮度的冷電子光源,匯聚成極細的電子探針後對樣品進行掃描,然後收集穿過樣品的電子,同時在樣品正方裝有電子能量分析器。這種...
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掃描式電子顯微鏡系統 掃描式電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2011年3月10日啟用。技術指標 放大倍數30-300000,解析度3nm。主要功能 對材料進行微觀形貌分析。
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體:倍率:15~100000,觀察範圍:9(H)×7(V)mm~1.3(H)×1(V)mm,解析度:8nm,觀察兩次電子圖像和反射電子...
掃描電子顯微鏡及能譜儀是一種用於材料科學、機械工程、安全科學技術領域的分析儀器,於2010年12月27日啟用。技術指標 放大倍數:6x–1,000,000x,解析度:30kV下3.0nm(SE),30kV下4.0nm(BSE),3kV下8.0nm(SE)。主要功能 微觀...
日立掃描電子顯微鏡是一種用於化學、安全科學技術領域的分析儀器,於2016年5月7日啟用。技術指標 加速電壓-15kV;放大倍數-15x to 60,000x。主要功能 日立台式電鏡TM3030標配4分割背散射探測器,可採集來自四個不同方向的圖像信息,可以有...
掃描電子顯微鏡-能譜儀是一種用於物理學、化學、生物學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2009年8月31日啟用。技術指標 二次電子像解析度:1.0nm(15kv);1.4nm(1kv,減速模式);2.0nm (1kV)普通模式;加速電壓:0.5 ~ 30kV;...
桌上型掃描電子顯微鏡是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2010年01月02日啟用。技術指標 1、放大倍率20~30000倍;2、加速電壓:1~30kV3、樣品直徑最大可達75mm,高度10~15mm。主要功能 1、固體表面微觀結構;2、進行檢材表面...
掃描式電子顯微鏡及運費是一種用於化學、材料科學、冶金工程技術、物理學領域的分析儀器,於2011年5月31日啟用。技術指標 解析度:3.0nm(30kV);2.0nm(30kV);4.5nm(30kV)加速電壓:0.2-30kV放大倍數:5-1,000,000X射線...
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掃瞄電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2006年12月18日啟用。技術指標 解析度:二次電子像3nm,背反射電子像4nm; 放大倍數:05-30KV(10V步進不變)。主要功能 對各種材料(金屬、非金屬、礦物、各種合金化合物等) 試樣...
場發射掃描電子顯微鏡JSM-7600F是一種用於化學領域的分析儀器,於2012年1月12日啟用。技術指標 磁懸浮分子泵系統、五軸馬達驅動全對中樣品台、全自動樣品更換氣鎖和樣品監控系統解析度:1.0nmat15kV;1.5nmat1kV放大倍數:25-100萬倍...
CD-SEM(特徵尺寸測量用掃描電子顯微鏡)是一種根據圖像的灰度(grey-scale)來確定圖形的邊界,進而計算出線寬的掃描電子顯微鏡。測量圖形的尺寸,一般是依靠高解析度的電子顯微鏡(scanning electron microscope, CD-SEM)來測量光刻膠圖形的...
掃描電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2015年10月26日啟用。技術指標 解析度:3.0nm@30KV(SE and W),4.0nm@30KV(VP with BSD)。主要功能 觀察掃描各種金屬材料及產品的顯微形貌,可進行失效分析,能譜...
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