掃瞄電子顯微鏡

掃瞄電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2006年12月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃瞄電子顯微鏡
• 產地：中國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2006年12月18日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

解析度：二次電子像3nm，背反射電子像4nm； 放大倍數：05-30KV（10V步進不變）。

主要功能

對各種材料（金屬、非金屬、礦物、各種合金化合物等） 試樣進行表面形貌觀察和記錄（顆粒分析、金相組織觀察，斷口分析等）。