全自動台式掃描電子顯微鏡是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2015年12月10日啟用。
全自動台式掃描電子顯微鏡 全自動台式掃描電子顯微鏡是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2015年12月10日啟用。技術指標 放大倍數20×-100000× 解析度優於18nm。主要功能 功能更全的光學顯微鏡，提高后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。
飛納台式掃描電子顯微鏡被用於廣泛的市場和套用領域，如材料科學、電子、納米顆粒、生物醫學、紡織纖維和地質科學等 用於樣品的形貌表征、顆粒分析、紋理觀察等。Phenom XL G2 台式掃描電鏡（SEM）可自動進行質量控制，並提供準確、可重複的檢測結果， 通過直觀、易於學習的界面幫助快速掌握最新信息。Phenom XL G2 為...
台式掃描顯微鏡是一種用於生物學、農學、林學領域的分析儀器，於2014年12月31日啟用。技術指標 *2.1放大倍率：內置集成彩色光學顯微鏡，電子放大 80-100,000倍 *2.2背散射電子探測器解析度： 優於17nm 2.3加速電壓： 5kV—10kV連續可調 *2.4單根燈絲壽命：大於1500h； 2.5電子艙真空封鎖技術，每次換...
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM）是一種用於高解析度微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、解析度高，成像直觀、立體感強、放大倍數範圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優點。目...
台式掃描電子顯微鏡能譜一體機是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2017年6月27日啟用。技術指標 1.總體要求：設備在滿足解析度的前提下，成像快速，放置環境要求低，可隨意搬動，維護周期長 2.儀器形態：小型、桌面，可移動，要求具有防震設計，可擺放於普通實驗室桌面使用，要求儀器主機體積不超過 300...
桌面掃描電子顯微鏡 桌面掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年7月4日啟用。技術指標 （1）、電子槍：六硼化鑭燈絲，燈絲壽命≥1000小時；（2）、放大倍數：30-100000倍；可數位放大：2倍、4倍；（3）、電子束電流：30pA-1nA，加速電壓：5kV/10kV/15kV。主要功能 表面形貌及能譜分析。
掃描型電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器，於2017年7月14日啟用。技術指標 第四代 Phenom Pro 是一款使用高亮度 CeB6 燈絲的高解析度台式掃描電鏡。觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構，放大倍數要求可達130,000 倍。基於新一代高亮度 CeB6 燈絲和全新的聚焦系統，Phenom Pro的解析度輕鬆達到 14 nm，同時...
桌面電子掃描顯微鏡是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2016年11月24日啟用。技術指標 ①電子槍：場發射電子源 ②加速電壓：0.5 to 2 kV ③束流：0.2 to 1 nA ④解析度：＜10 nm （@1kV） ⑤放大倍數：250 to 130,000x (2048×2048pixels) ⑥ 樣品尺寸：最大 50×30 mm ⑦ 樣品高度...
台式電子掃描顯微鏡 台式電子掃描顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年12月20日啟用。技術指標 放大30000倍。主要功能 材料分析。
襯度，消像散； 最大樣品：直徑為150mm； 樣品交換：抽拉式樣品台； 真空系統：全自動擴散泵DP。主要功能 JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統合於一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一隻滑鼠，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。
台式大景深掃描電子顯微鏡 台式大景深掃描電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2015年10月21日啟用。技術指標 放大倍數：二次電子60000倍，背散射30000倍，鎢燈絲，試樣尺寸：直徑70mm，高度50mm，加速電壓15KV，10KV，5KV，EDS。主要功能 進行SEM分析、能譜分析。
掃描電子顯微電鏡是一種用於化學學科領域的電子光學儀器，於2016年3月15日啟用。技術指標 解析度：二次電子（SE）像 15 kV時優於1.0 nm；1 kV時優於1.4 nm（非減速模式） 背散射（BSE）像： 1 kV時優於3.5 nm；15 kV時優於2.0 nm 放大倍率範圍：1 ～ 1,000,000倍。主要功能 材料的微觀組織觀察...
日立掃描電子顯微鏡是一種用於化學、安全科學技術領域的分析儀器，於2016年5月7日啟用。技術指標 加速電壓-15kV;放大倍數-15x to 60,000x。主要功能 日立台式電鏡TM3030標配4分割背散射探測器,可採集來自四個不同方向的圖像信息,可以有四種成像模式。放大倍數可達6萬倍，數字放大可達24萬倍.標配大樣品艙，可容納最...
桌上型掃描電子顯微鏡 桌上型掃描電子顯微鏡是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器，於2010年01月02日啟用。技術指標 1、放大倍率20～30000倍；2、加速電壓：1～30kV3、樣品直徑最大可達75mm，高度10～15mm。主要功能 1、固體表面微觀結構；2、進行檢材表面元素的成分分析。
掃描式電子顯微鏡/掃描探針顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 XY方向解析度為0.2nm，Z方向為0.01nm，最大掃描範圍150*150um。主要功能 利用針尖與樣品表面原子間的微弱作用來作為反饋信號，維持針尖與樣品間的作用力恆定，同時針尖在樣品表面掃描，從而得知樣品表面高低起伏。
掃描式測試電子顯微鏡 掃描式測試電子顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2017年1月17日啟用。技術指標 放大倍率:25~19000(LEI模態) 100~65000(SEI模態) ,可觀測範圍:x:0~70mm; y:0~50mm z::1.5~25mm。主要功能 （1）EDX/Material analysis （2）Cross Section。
掃描電子顯微鏡 EVO 18是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術學科領域的顯微鏡及圖象分析儀器，於2012年1月4日啟用。技術指標 解析度：3.0 nm @ 30 KV (SE 與W)、4.0 nm @ 30 KV (VP with BSD ) 加速電壓：0.2-30KV 放大倍數：5-1000000 x 探針電流：0.5PA-5μA X-射線分析工作距離：8...
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體：倍率：15～100000，觀察範圍：9(H)×7(V)mm～1.3(H)×1(V)mm，解析度：8nm，觀察兩次電子圖像和反射電子圖像，觀察模式：高真空、低真空（3-260Pa），顯示解析度：觀察640×480，攝影...
掃描式透射電子顯微鏡，是一種光學儀器。掃描式透射電子顯微鏡（scanning transmission electron microscope）使用高亮度的冷電子光源，匯聚成極細的電子探針後對樣品進行掃描，然後收集穿過樣品的電子，同時在樣品正方裝有電子能量分析器。這種電鏡既能觀察較厚、不染色的生物樣品，又可分析樣品各部分的元素組成。這種電鏡所...
掃描電子顯微鏡及電子能譜儀是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器，於2015年5月8日啟用。技術指標 掃描電鏡設備主要技術參數：1、解析度：二次電子（SE）像解析度在高真空時：30kV時優於3.0nm，3kV時優於10.0nm；背散射電子(BSE)像解析度（VPwithBSD），30kV時優於4.0nm。2、放大...
掃描電子顯微鏡能譜分析儀器 掃描電子顯微鏡能譜分析儀器是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年6月16日啟用。技術指標 最高解析度：≤3nm。 3X~1000,000X或者更寬,連續可調，從小到大任一倍數圖像不變形。主要功能 樣品全自動控制分析，實時計算機控制等功能。
採用計算機顯示的數碼顯微鏡通過顯微鏡內置的攝像機將顯微鏡看到的標本圖像傳輸到計算機上，通過計算機上安裝的顯微圖像分析軟體進行追蹤分析，從而獲得一系列有價值的定性定量數據。主要用於微生物鑑定、細胞形態檢查、尿液有形成份分析、纖維細度檢測等方面。具有全自動掃描、圖像分析功能強、拓展性強等諸多特點。電子數碼...
全自動雷射共聚焦掃描顯微鏡 全自動雷射共聚焦掃描顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2011年6月1日啟用。技術指標 高精度3D形貌測試，100*--17000*變焦。主要功能 晶片結構分析。
場發射掃描電子顯微鏡JSM-7600F是一種用於化學領域的分析儀器，於2012年1月12日啟用。技術指標 磁懸浮分子泵系統、五軸馬達驅動全對中樣品台、全自動樣品更換氣鎖和樣品監控系統解析度：1.0nmat15kV；1.5nmat1kV放大倍數：25-100萬倍加速電壓：0.1KV-30kV樣品室尺寸：最大200mm直徑樣品束流強度：1pA到200nA。主...
掃描電子顯微鏡及拉伸台 掃描電子顯微鏡及拉伸台是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2011年4月1日啟用。技術指標 解析度: 3.0nm@30KV 5000N。主要功能 形貌分析。
掃描電子式顯微鏡 掃描電子式顯微鏡是日本生產的一種電子光學儀器，於2007年5月1日啟用。技術指標 理論放大倍數5~300000X解析度3.0nm。服務內容 1.電子零件顯微形貌觀察；2.薄膜厚度及微粒尺寸量測；3.錫須觀察分析；4.合金層IMC形貌觀察。
掃描發射電子顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2007年9月28日啟用。技術指標 解析度二次電子(SE)成像：高真空模式：30kV時 1.2 nm；1kV時 3.0nm 低真空模式：30kV時 1.5 nm；3kV時 3.0nm ESEM？環境真空模式: 30kV時 1.5 nm 背散射電子(BSE)成像：30kV時 2.5 nm 放大倍數高真空模式: 12x...
多功能掃描式電子顯微鏡 多功能掃描式電子顯微鏡是一種用於農學、林學、材料科學領域的分析儀器，於2012年12月07日啟用。技術指標 1.加速電壓：200V~30kV；2.放大倍數：6~100萬倍,誤差 主要功能 放大倍數；解析度。
快速掃描型原子力顯微鏡是一種用於力學領域的計量儀器，於2017年4月17日啟用。技術指標 樣品台大小：210mm x 210mm，全自動樣品台，樣品固定方式：標配真空吸附，XY方向最大掃描範圍：90μm，Z方向最大掃描範圍：10μm，最大掃描速度：10Hz，Z方向閉環噪音水平：0.035nm，熱漂移水平：0.2nm/min，光學輔助觀察...
