飛納台式掃描電鏡

飛納台式掃描電子顯微鏡被用於廣泛的市場和套用領域，如材料科學、電子、納米顆粒、生物醫學、紡織纖維和地質科學等

用於樣品的形貌表征、顆粒分析、紋理觀察等。

Phenom XL G2 台式掃描電鏡（SEM）可自動進行質量控制，並提供準確、可重複的檢測結果， 通過直觀、易於學習的界面幫助快速掌握最新信息。Phenom XL G2 為全螢幕成像，平均成像時間為 40 秒，配備長壽命CeB6電子源維護方便。

基本介紹

• 中文名：飛納台式掃描電鏡
• 外文名：Phenom SEM
• 用途：電子半導體，金屬材料，鋰電池新能源材料，生命科學，高分子材料，人文、建築、地質、功能材料與新材料，工業製造
• 產地：荷蘭
• 學科領域：材料科學、電子、納米顆粒、生物醫學、紡織纖維和地質科學等
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
• 簡稱：飛納電鏡

技術指標

光學顯微鏡：放大 20

燈絲材料：1,500 小時 CeB 6 燈絲

加速電壓：5 kV

電鏡放大：65,000

解析度：優於 25 nm

抽真空時間：小於 15 秒

探測器：背散射電子探測器

放置環境：普通實驗室或辦公室、廠房

設備圖片

台式掃描電子顯微鏡

Phenom XL把台式電鏡的性能再次提升到了一個新台階，在數秒之內可遍覽微觀世界，具有簡單易用，30秒快速成像，全程樣品導航，直接觀測不導電樣品，高亮度長壽命燈絲，完全防震等優勢。

主要功能

對樣品進行電子光學分析。