掃描式電子顯微鏡/掃描探針顯微鏡

掃描式電子顯微鏡/掃描探針顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描式電子顯微鏡/掃描探針顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2006年12月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

XY方向解析度為0.2nm，Z方向為0.01nm，最大掃描範圍150*150um。

主要功能

利用針尖與樣品表面原子間的微弱作用來作為反饋信號，維持針尖與樣品間的作用力恆定，同時針尖在樣品表面掃描，從而得知樣品表面高低起伏。