雙束環境掃描式電子顯微鏡

雙束環境掃描式電子顯微鏡是一種用於物理學、農學、材料科學、礦山工程技術領域的分析儀器，於2009年7月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：雙束環境掃描式電子顯微鏡
• 產地：荷蘭
• 學科領域：物理學、農學、材料科學、礦山工程技術
• 啟用日期：2009年7月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

Voltage:200V to30KV Beam Current:小於200nA Resolution:1.2nm to30kv(SE) 放大倍數50萬倍、解析度：1.3nm。

主要功能

材料顯微形貌分析 、 選區元素分析 、 離子束微加工。