掃描型探針顯微鏡

掃描型探針顯微鏡是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器，於2003年11月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描型探針顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科、材料科學
• 啟用日期：2003年11月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

0.1nm/0.01nm。

主要功能

形貌分析。