多場耦合掃描探針式顯微鏡

多場耦合掃描探針式顯微鏡是一種用於化學、材料科學、冶金工程技術、物理學領域的分析儀器，於2008年12月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：多場耦合掃描探針式顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：化學、材料科學、冶金工程技術、物理學
• 啟用日期：2008年12月31日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針

技術指標

濕度控制：0-99%；傳輸數據長度：16位，所有通道；圖像像素解析度：最大1024×1024；掃描範圍：最大90μm；解析度：雲母原子,或石墨原子；噪音：垂直方向,少於0.1ÅRMS；水平方向，少22cm於1ÅRMS；最大樣品尺寸：4cm長×4cm寬×10mm厚；整機尺寸：23cm高×22cm寬×長，重量為6公斤；電源100-120VAC，60Hz，2A或220-240VAC，50Hz，1A。

主要功能

用於AFM原子力，橫向力，STM掃描隧道，KFM表面電勢，MFM磁力，EMF靜電力，PFM壓電力回響，FFM摩擦力，電流測試模式，液體中成像，熱掃描成像。