場發射電子掃描顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2006年11月13日啟用。
基本介紹
- 中文名：場發射電子掃描顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2006年11月13日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
冷場高分辨，帶EDS。
主要功能
形貌分析，元素分析。
場發射電子掃描顯微鏡
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