熱場發射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年3月6日啟用。
基本介紹
- 中文名：熱場發射電子顯微鏡
- 產地：德國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2013年3月6日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
1.0 nm @ 20 kV @ WD = 2 mm， 0.1 - 30 kV。
主要功能
材料組織形貌，微區成分。
熱場發射電子顯微鏡
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