場發射透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2005年3月11日啟用。
基本介紹
- 中文名:場發射透射式電子顯微鏡
- 產地:荷蘭
- 學科領域:物理學、化學、藥學、材料科學
- 啟用日期:2005年3月11日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡
場發射透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2005年3月11日啟用。
場發射透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2005年3月11日啟用。技術指標Schottky場發射槍;加速電壓範圍:50kV-200kV;TEM放大倍數:25x-1000,000x;點...
場發射透射電子顯微鏡可對金屬、礦物、半導體、陶瓷、生物、高分子、複合材料、催化劑等材料進行微觀形貌、晶體結構、晶體缺陷、晶粒晶向及成份分析。2024年1月20日,由生物島實驗室領銜研製,擁有自主智慧財產權的首台國產場發射透射電子顯微鏡...
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小於0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構,就必須選擇波長更短的光源,以提高顯微鏡的解析度。1932年Ruska發明...
場發射透射電鏡(field emission transmission electron microscope)是2018年公布的生物物理學名詞。定義 一種配有場發射電子槍的透射電子顯微鏡。可獲得優於鎢燈絲透射電鏡的相干性和亮度,進而大大提高成像的分辨力。出處 《生物物理學名詞...
透射式電子顯微鏡鏡筒頂部是電子槍,電子由鎢絲熱陰極發射出、通過第一,第二兩個聚光鏡使電子束聚焦。電子束通過樣品後由物鏡成像於中間鏡上,再通過中間鏡和投影鏡逐級放大,成像於螢光屏或照相干版上。中間鏡主要通過對勵磁電流的調節...
場發射能量過濾透射電子顯微鏡 場發射能量過濾透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年11月8日啟用。技術指標 放大倍數:20k~40k倍 點解析度:0.23nm 條紋解析度:0.10nm。主要功能 材料微觀觀察、形貌觀察。
場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高解析度,能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理,在鍍膜或不鍍膜的基礎上,低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品...
場發射透射電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2007年5月4日啟用。技術指標 TEM形貌像,HRTEM晶格像;選區電子衍射花樣SED,STEM(HAADF)掃描透射像,微區成分分析(點、線、面) 點...
高分辨場發射透射電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學、生物學領域的分析儀器,於2012年11月2日啟用。技術指標 場發射電子槍,加速電壓:20-200kV連續調節,放大倍數:25-1,000,000,點解析度:0.24nm;線解析度:0.102nm,信息...
場發射透射電鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年4月10日啟用。技術指標 1.點解析度:≤0.24nm;信息解析度:≤0.14nm;能量解析度: ≤0.7eV; 2.最小放大倍數: 80× 最大放大倍數: 1,000,000×; 3.樣品...
300KV場發射透射電子顯微鏡 300KV場發射透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年3月9日啟用。技術指標 TEM點解析度 80 pm STEM解析度 70 pm。主要功能 納米材料形貌、結構以及成分分析。
日立超高分辨場發射掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、生物學、農學領域的分析儀器,於2015年12月1日啟用。技術指標 超高解析度成像。主要功能 ⑴生物:種子、花粉、細菌…… ⑵醫學:血球、病毒…… ⑶動物:大腸、絨毛、細胞、纖維...
場發射透射電鏡和掃描電鏡是一種用於物理學、化學工程領域的分析儀器,於2013年3月6日啟用。技術指標 1、點解析度:0.24nm 2、線解析度:0.102nm 3、信息解析度:0.14nm。主要功能 透射電鏡功能及套用範圍: 1、高性能的透射電子...
材料型場發射透射電鏡是一種用於水利工程、材料科學、礦山工程技術、動力與電氣工程領域的分析儀器,於2019年12月23日啟用。技術指標 加速電壓: 200 KV 電子槍:肖特基熱場發射 TEM點解析度:0.25nm TEM信息解析度: 0.12 nm STEM...
STEM用電子束在樣品的表面掃描,通過電子穿透樣品成像。STEM技術要求較高,要非常高的真空度,並且電子學系統比TEM和SEM都要複雜。來源 掃描透射電子顯微鏡是指透射電子顯微鏡中有掃描附屬檔案者,尤其是指採用場發射電子槍作成的掃描透射電子...
場發射槍分析透射電鏡是一種用於化學、材料科學、冶金工程技術、物理學領域的分析儀器,於2012年10月31日啟用。技術指標 合金、鋼鐵、納米材料、有機聚合物。主要功能 可以對各種固體和液體樣品進行形態觀察和元素定性定量分析,對部分溶液...
超高分辨場發射電子顯微鏡是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2017年11月17日啟用。技術指標 1.加速電壓:0.1kV - 30kV 2.解析度:0.8nm(15kV) 3.放大倍率:20x – 800,000x 4.配備日本Horiba公司能譜儀:X-MAX,檢測元素範圍...
場發射電鏡是一種用於材料科學領域的儀器,於2016年06月12日啟用。技術指標 二次電子解析度:1.0 nm (15 kv,WD = 4 mm )1.4 nm (1 kv,WD = 1.5 mm ,減速模式) 2.0 nm (1kv,WD = 1.5 mm,普通模式) ...
場發射掃描電子顯微鏡SU8220是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年11月13日啟用。技術指標 二次電子解析度:15KV時優於0.8nm;1KV時優於1.1nm;電子槍真空:優於2*10-8;電子束流條件範圍:5pA~10nA。主要功能 冷場發射...
高分辨場發射電子顯微鏡 高分辨場發射電子顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年10月1日啟用。技術指標 解析度1.0nm(15kV,4mm)。主要功能 形貌觀察。
冷場場發射掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2017年3月22日啟用。技術指標 解析度 1.0nm @ 15kV,能譜解析度133eV(Mn Ka),分析元素B(5)-- U(92)。主要功能 本儀器具有高的解析度,...
FEI場發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年4月24日啟用。技術指標 二次電子解析度 15KV時優於0.8nm,1KV時優於0.9nm;STEM模式,BF像 30KV時優於0.6nm。主要功能 帶能量單色過濾器,超高解析度熱場發射...
雙束場發射電子顯微鏡是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2014年7月11日啟用。技術指標 場發射電子槍,電子束加速電壓:350 V - 30 kV;Ga離子槍,離子束加速電壓:500 V C 30 kV;解析度:0.8 nm (@30kV, STEM),0.9 nm...
超高解析度場發射掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2010年10月01日啟用。技術指標 加速電壓:1-15KV,放大倍數:120000-220000倍,二次電子解析度:1.4nm(1kV,減速模式),1.0nm(15kV);。主要功能 金...
熱場發射電子顯微鏡 熱場發射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年3月6日啟用。技術指標 1.0 nm @ 20 kV @ WD = 2 mm, 0.1 - 30 kV。主要功能 材料組織形貌,微區成分。
ZEISS熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、能源科學技術領域的分析儀器,於2016年1月1日啟用。技術指標 放大倍率:範圍:12×~1000,000×;工作距離:範圍可由1mm至50mm。主要功能 觀察材料表面微觀形貌。
主要用途: Quanta 200 FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢 儀器類別 0304070202 /儀器儀表 /光學儀器 /電子光學及離子光學儀器 /台式掃描電子顯微鏡 指標信息 1、場發射環境掃描電子...
熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月20日啟用。技術指標 1.具有高分辨能力的半浸沒式物鏡(Semi-in-lens) 半浸沒式物鏡能將電子束收縮的很細,即使在低加速電壓下也能實現高分辨。 2.採用GENTLE...