300KV場發射透射電子顯微鏡

300KV場發射透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年3月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：300KV場發射透射電子顯微鏡
• 產地：荷蘭
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2016年3月9日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

TEM點解析度 80 pm STEM解析度 70 pm。

主要功能

納米材料形貌、結構以及成分分析。