場發射電鏡是一種用於材料科學領域的儀器,於2016年06月12日啟用。
基本介紹
- 中文名:場發射電鏡
- 產地:美國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2016年06月12日
場發射電鏡是一種用於材料科學領域的儀器,於2016年06月12日啟用。
場發射電鏡是一種用於材料科學領域的儀器,於2016年06月12日啟用。技術指標二次電子解析度:1.0 nm (15 kv,WD = 4 mm )1.4 nm (1 kv,WD = 1.5 mm ,減速模式) 2.0 nm...
主要用途: Quanta 200 FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢 儀器類別 0304070202 /儀器儀表 /光學儀器 /電子光學及離子光學儀器 /台式掃描電子顯微鏡 指標信息 1、場發射環境掃描電子...
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電鏡制樣 電鏡制樣在用掃描電鏡、投射電鏡、場發射電鏡等光學儀器對樣品觀察前,對樣品的製備過程稱為電鏡制樣。如:鍍膜、乾燥、冷凍、清洗、灰化、刻蝕等。
透射電鏡物鏡的色差及其他不穩定因素造成相位襯度傳遞函式隨空間頻率增高而衰減,這種衰減限制了所能傳遞的空間頻率的最大值,其倒數即為樣品中可以被分辨的最小距離,故名。場發射電鏡的信息極限優於其點解析度。出處 《生物物理學名詞》...
一種以高速運動的電子束作為“光源”或激發源,對物體的微觀結構進行放大分析觀測的電子光學儀器,可分為透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡 (STEM)、反射電鏡(REM)、點投影電鏡(PPEM)及場發射電鏡(FEEM)等,其中以透射...
TESCAN擁有售前套用和售後服務的技術團隊,在上海的套用演示中心有包含鎢燈絲電鏡、場發射電鏡、雙束聚焦電鏡系統(FIB-SEM)、TOF-SMIS、EDS、EBSD、電鏡制樣等相關設備的演示培訓平台,為國內用戶提供參觀、交流和學習的平台。人事構成 ...
再用圖像處理技術,例如電子晶體學處理方法,已能從一張200kV的JEM-2010F場發射電鏡(點分辨本領0.194nm)拍攝的解析度約0.2nm的照片上獲取超高解析度結構信息,成功地測定出解析度約0.1nm的晶體結構。2.像差校正電子顯微鏡電子顯微鏡的...
2022年初,納克微束髮布國內首款擁有自主智慧財產權的可搭載聚焦離子束(FIB)模組的雙束場發射電鏡FE-1050系列,率先將國產掃描電鏡水平代入低壓高分辨力(<2nm@1kV)階段。2022年末,發布國內首款自主研發——極高分(Extreme High ...
TESCAN中國公司擁有經驗豐富的售前套用和售後服務的技術團隊,在上海的套用演示中心有包含鎢燈絲電鏡、場發射電鏡、雙束聚焦電鏡系統(FIB-SEM)、TOF-SMIS、EDS、EBSD、電鏡制樣等相關設備的演示培訓平台,為國內用戶提供參觀、交流和學習...