熱發射顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2014年7月26日啟用。
熱發射顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2014年7月26日啟用。技術指標InSb相機在3 µm到5 µm波段內具有高靈敏度專為3 µm 到 5 µm波段最佳化的鏡頭設計使用lock-in功能（選配）實現低噪聲使用...
掃描電子顯微鏡類型多樣，不同類型的掃描電子顯微鏡存在性能上的差異。根據電子槍種類可分為三種：場發射電子槍、鎢絲槍和六硼化鑭。其中，場發射掃描電子顯微鏡根據光源性能可分為冷場發射掃描電子顯微鏡和熱場發射掃描電子顯微鏡。冷場發射...
電子顯微鏡中的電子通常通過電子熱發射過程從鎢燈絲上射出，或者採用場電子發射方式得到。隨後電子通過電勢差進行加速，並通過靜電場與電磁透鏡聚焦在樣品上。透射出的電子束包含有電子強度、相位、以及周期性的信息，這些信息將被用於成像。...
電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構；掃描式電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌，也能與X射線...
場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高解析度，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品...
高解析度顯微鏡 高解析度顯微鏡是一種用於基礎醫學、化學、生物學領域的分析儀器，於2015年12月11日啟用。技術指標 可用於活細胞實驗，含螢光、透射光路，60x物鏡。主要功能 高分辨態分析。
筆者以德國蔡司ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡為例，從環境條件、光學系統、真空系統及附屬檔案設施4個方面總結了熱場發射掃描電子顯微鏡運行狀態的幾種檢查方法和維護保養經驗。相關研究 鋯石等測年礦物的陰極螢光(CL)圖像分析是礦物微區成分分析和U...
掃描發射電子顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2007年9月28日啟用。技術指標 解析度二次電子(SE)成像：高真空模式：30kV時 1.2 nm；1kV時 3.0nm 低真空模式：30kV時 1.5 nm；3kV時 3.0nm ESEM？環境真空模式: 30kV時...
超高分辨場發射掃描電子顯微鏡是一種用於能源科學技術、航空、航天科學技術、考古學領域的分析儀器，於2014年9月1日啟用。技術指標 次電子圖像分率：1.0 nm(加速電壓 15 kV, WD=4 mm) 1.3 nm(著陸電壓 1 kV, WD=1.5 mm) ...
場發射電子掃描顯微鏡 場發射電子掃描顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2006年11月13日啟用。技術指標 冷場高分辨，帶EDS。主要功能 形貌分析，元素分析。
