熱場發射掃描電鏡系統

熱場發射掃描電鏡系統是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2017年11月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：熱場發射掃描電鏡系統
• 產地：德國
• 學科領域：地球科學
• 啟用日期：2017年11月28日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

熱場發射掃描電鏡二次電子像解析度：0.8nm@15KV、1.6nm@1KV，Schottky型場發射電子源，掃描透射像探測器，帶能譜儀、EBSD、冷台、臨界點乾燥儀、離子濺射儀。

主要功能

微觀形貌表征、微區元素分析。