雷射干涉儀2是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器，於2001年12月6日啟用。
基本介紹
- 中文名：雷射干涉儀2
- 產地：美國
- 學科領域：信息與系統科學相關工程與技術
- 啟用日期：2001年12月6日
技術指標,主要功能,
技術指標
1、測量重複性：σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ 2、最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms≤0.01λ。
主要功能
光學參數測試。
雷射干涉儀2
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